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测量原理 | 磁感应 |
测量范围 | 0~1500μm |
精度 | ± (1µm+1%测量值) |
分辨率 | 0.1μm或<0.2%测量值 |
显示 | 无背光,4为字母数字,高度10mm(0.4英寸) |
校准方法 | 出厂校准,零点校准,薄膜校准 |
统计 | 无 |
数据存储 | 无 |
接口 | 无 |
工作温度 | 0℃~60℃ |
表面温度 | -15℃~60℃ |
规格尺寸 | 137mm*66mm*23mm |
探头规格 | ∅14mm*83mm |
重量 | 205g,含探头和电池 |
防护等级 | IP 52(防尘和滴水) |
标准 | DIN, ISO, ASTM, BS |
对比
测量原理 | 磁感应 |
测量范围 | 0~1500μm |
精度 | ± (1µm+1%测量值) |
分辨率 | 0.1μm或<0.2%测量值 |
显示 | 无背光,4为字母数字,高度10mm(0.4英寸) |
校准方法 | 出厂校准,零点校准,薄膜校准 |
统计 | 无 |
数据存储 | 无 |
接口 | 无 |
工作温度 | 0℃~60℃ |
表面温度 | -15℃~60℃ |
规格尺寸 | 137mm*66mm*23mm |
探头规格 | ∅14mm*83mm |
重量 | 205g,含探头和电池 |
防护等级 | IP 52(防尘和滴水) |
标准 | DIN, ISO, ASTM, BS |
名称 | 型号 | 说明书 | 画册 | 操作说明书 | 清单 |
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铁基基本型膜厚仪 | Surfix®E-F basic | Surfix B F测厚仪,保护套,校准片,手提箱,AAA电池,制造商证书,使用说明书。 |