CMI900X荧光镀层测厚仪
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CMI900X荧光镀层测厚仪

品牌: 牛津Oxford
点击量:192
销售电话:13953259481
纵横仪器专注于涂层测厚仪销售有13年的历史了!在这13年中,我们为广大用户提供了物美价廉的涂层测厚仪!但在与用户交流中发现有很多用户对选择适用的涂层测厚仪有着一定误区,给自己造成一些不必要的损失。纵横仪器为了把损失控制在购买之前,总结如下:1、涂层基体确认,这是非常有必要的,只有确认了涂层基体才能选择用哪种原理的涂层测厚仪,如铁磁性材料与铜铝材料所用原理就不同。2、测量精度及范围的确认,如测量范围在10um之下很多测厚仪精度及误差就不太合适。3、涂层材料的类型,有很多涂层材料是不适合用常规的涂层测厚仪进行测量的。还有很多细节,为了规避以上问题,请致电欢迎致电:13953259481来咨询。您的一次电话垂询,将开启愉快的合作之旅。为你省钱买好货,抓紧来电吧!纵横仪器有专业的销售工程师和维修工程师以确保您购买涂层测厚仪无后顾之忧!

产品介绍

  • 技术参数
  • 产品详细

CMI900X荧光镀层测厚仪CMI900X荧光镀层测厚仪

CMI900X荧光镀层测厚仪CMI900X荧光镀层测厚仪

CMI900X荧光镀层测厚仪

  • 精度高、稳定性好

  • 强大的数据统计、处理功能

  • 测量范围宽

  • NIST认证的标准片

  • 全球服务及支持


主要规格

规格描述


X射线激发系统

垂直上照式X射线光学系统


空冷式微聚焦型X射线管,Be窗



标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等



功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准

     75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选



装备有安全防射线光闸



二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选



准直器程控交换系统

最多可同时装配6种规格的准直器


多种规格尺寸准直器任选:

-圆形,如4、6、8、12、20 mil等

-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

 



测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)


在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)



样品室

CMI900

CMI950

样品室结构

开槽式样品室

开闭式样品室

最大样品台尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

XY轴程控移动范围

标准:152.4 x 177.8mm

还有5种规格任选

300mm x 300mm

Z轴程控移动高度

43.18mm

XYZ程控时,152.4mm

XY轴手动时,269.2mm

XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制


样品观察系统

高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。


激光自动对焦功能



可变焦距控制功能和固定焦距控制功能



计算机系统配置

IBM计算机

惠普或爱普生彩色喷墨打印机


分析应用软件

操作系统:Windows2000中文平台

分析软件包:SmartLink FP软件包


测厚范围

可测定厚度范围:取决于您的具体应用。


 

 

 

 

基本分析

 

 

采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。


样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)



可检测元素范围:Ti22 – U92



可同时测定5层/15种元素/共存元素校正



贵金属检测,如Au karat评价



材料和合金元素分析,



材料鉴别和分类检测



液体样品分析,如镀液中的金属元素含量



多达4个样品的光谱同时显示和比较



元素光谱定性分析



调整和校正

系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移


测量自动化

鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”


多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式



测量位置预览功能



激光对焦和自动对焦功能



样品台程控

设定测量点


连续多点测量



测量位置预览(图表显示)



 

 

统计计算

平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图


数据分组、X-bar/R图表、直方图



数据库存储功能



任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书



 

系统安全监测

Z轴保护传感器


样品室门开闭传感器



操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师





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