LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求,是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
特点概述:
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
校准选项
出厂时已校准，立即可用
在未知涂层上校准
零校准
在无涂层的基体上一点和多点校准
在有涂层的基体上校准
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
可选择的显示模式，以最佳形式去完成测量任务
输入和极限监视*
在Windows下有简单的存储读数档案管理
可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计：
可统计评估999个读数
最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
在线统计，所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别：
基本型 – 证明质量的基本特征
高级型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
多样的探头：
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。
LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪技术参数：
显示技术 | 约48mm×24mm,背景灯光照明 |
测量方法 | 铁基测量：磁感应法（EN ISO 2178） 非铁基测量：涡流法（EN ISO2360） |
测量范围 | 0-2000µm，根据使用的探头 |
校准 | 零校准 在无涂层的材料上用薄膜进行单点校准和多点校准 在涂层材料（铁基）上校准，如果没有无涂层材料 出厂校准 下载和保存客户的校准 |
测量误差（校准后） | 涂层 < 100 μm: 1 % +/- 1 μm 涂层 > 100 μm: 1 to 3 % +/- 1 μm 涂层 > 1000 μm: 3 to 5 % +/- 10 μm 涂层 > 10000 μm：5 % +/- 100 μm |
接口 | 通过电源线USB/RS232 |
测量单位 | 可选择um,mm, mil, inch |
存储 | 140个文件，每个文件999个测量值 全部：9999个测量值，每个生成的文件约100个测量值 |
统计 | 最小值，最大值，算数平均值，数据号，标准偏离，极限值监测，局部涂层厚度和平均值厚度根据EN ISO2808 |
日期和时间 | 实时时钟，用电池 |
电源 | 2节AA电池，USB或独立的主机电源 |
操作时间 | 关背景灯照明约90小时（用碱性锰电池） 开背景灯照明约45小时（用碱性锰电池） |
电池级别指示 | 4级电池级别指示，在电压前2-4小时，有声音报警，低电压时，自动关机 |
操作温度 | 0 °C to +45 °C |
存放温度 | -20 °C to +60 °C 无电池， 0 °C to +45 °C 有电池 |
防尘和湿度保护 | 防护等级IP 40（保护微粒侵入> 1 mm)) |
大小 (h x w x d) | 81*121*32mm （H*W*D） |
重量 | 约150 g（无电池，无橡胶套） |
电子探头 | 带有内置微处理器和单独处理的灵敏探头 |
基础套装 | 统计套装 | 数据套装 |
Fe基础套装 2042.901 NFe基础套装 2042.902 Fe/NFe基础套装 2042.903 供货范围和附件：试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 | Fe统计套装 2042.911 NFe统计套装 2042.912 Fe/NFe统计套装 2042.913 供货范围和附件：PC电线（USB）,PC软件EasyExport，试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 | Fe数据套装 2042.921 NFe数据套装 2042.922 Fe/NFe数据套装 2042.923 供货范围和附件：统计和数据存储模块， PC电线（USB）,PC软件STATWIN2002t， 试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 |
基础套装 | 统计套装 | 数据套装 |
Fe基础套装 2042.901 NFe基础套装 2042.902 Fe/NFe基础套装 2042.903 基础套装包括： 供货范围和附件：试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 | Fe统计套装 2042.911 NFe统计套装 2042.912 Fe/NFe统计套装 2042.913 统计套装包括： 供货范围和附件：PC电线（USB）,PC软件EasyExport，试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 | Fe数据套装 2042.921 NFe数据套装 2042.922 Fe/NFe数据套装 2042.923 数据套装包括： 供货范围和附件：统计和数据存储模块，PC电线（USB）,PC软件STATWIN2002t，试块，校准薄膜 Fe套装：探头2442.100 NFe套装：探头2442.130 Fe/NFe套装：探头2442.410 |
德国卡尔德意志公司于1949年在乌普塔尔（德国）成立。自成立以来，公司一直致力于研发和制造无损检测（NDT）产品。 产品包括 数字式和模拟式超声波探伤仪、测厚仪、涂层测厚仪、裂纹测深仪、超声波检测系统、磁粉检测仪器、磁悬液和其它检测附件、渗透检测套装和渗透检测固定装置。
KD公司的产品以不断创新和安全可靠为特色，产品商标ECHOGRAPH, ECHOMETER, DEUTROFLUX,LEPTOSKOP, FLUXA, KD-Check 和RMG享誉全世界 。
KD公司一直凭借丰富的实践经验，理论知识和六十多年的专业诀窍，造就了符合质量管理保证体系的最先进的仪器和附件。未来，KD会研发出更高品质，更可靠和更经济的产品，满足客户的需求。