特点
• 用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。
• 每组包括 4 种厚度。
• 带有配套的携带箱。
技术参数
平面度: 0.1μm
平行度: 0.2μm
直径: 30mm
借助于平行平晶产生的干涉条纹图案可对测量表面的平行度进行检测
通过下述方法可确定所测量表面间的平行度 : 在测砧上夹紧平行平晶,从心轴方向观察在测力作用下产生的干涉条纹的数量。
下列图表平行平晶约为1μm (0.32μm x 3 = 0.96μm),测砧面上的干涉条纹不应超过一条。
有四种尺寸的平行平晶,心轴每转四分之一圈就可以进行测量。
性能参数
公制型
千分尺检测范围 | 货号 | 平行平晶种类(平行平晶厚度) |
0-25mm | 157-903 | 12.00, 12.12, 12.25, 12.37mm |
25-50mm | 157-904 | 25.00, 25.12, 25.25, 25.37mm |
英制型
千分尺检测范围 | 货号 | 平行平晶种类(平行平晶厚度) |
0-1" | 157-901 | .5000", .5062", .5125", .5187" |
1-2" | 157-902 | 1.0000", 1.0062", 1.0125", 1.0187" |