德国PHYNIX Surfix®E-FN 两用统计型膜厚仪Surfix® E Family系列Surfix FN为两用统计型精密涂镀层膜厚仪，搭配FN1.5外置固定探头，测量范围1~1500μm，满足绝大多数涂镀层测量，测量精度±(1μm+1%测量值)，分辨率达0.1μm。搭配红外接口便捷传输数据，主机防护等级IP52
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| 测量原理 | 磁感应+电涡流 |
| 测量范围 | 0~1500μm |
| 精度 | ± (1µm+1%测量值) |
| 分辨率 | 0.1μm或＜0.2%测量值 |
| 显示 | 背光，4为字母数字，高度10mm（0.4英寸） |
| 校准方法 | 出厂校准，零点校准，薄膜校准 漂移功能：正负一个常数值 |
| 统计 | 测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值 |
| 数据存储 | 2*100个测量值 |
| 接口 | 红外/电线 |
| 工作温度 | 0℃~60℃ |
| 表面温度 | -15℃~60℃ |
| 规格尺寸 | 137mm*66mm*23mm |
| 探头规格 | ∅14mm*83mm |
| 重量 | 205g，含探头和电池 |
| 防护等级 | IP 52（防尘和滴水） |
| 标准 | DIN, ISO, ASTM, BS |
| 凸面曲率半径最小 | 1.5mm |
| 凹面曲率半径最小 | 5mm |
| 最小的操作高度 | 115mm |
| 最小的测量区域 | 5×5mm |
| 最小的基材厚度 - F | 0.2mm |
| 最小的基材厚度 - N | 50μm |
| 测量原理 | 磁感应+电涡流 |
| 测量范围 | 0~1500μm |
| 精度 | ± (1µm+1%测量值) |
| 分辨率 | 0.1μm或＜0.2%测量值 |
| 显示 | 背光，4为字母数字，高度10mm（0.4英寸） |
| 校准方法 | 出厂校准，零点校准，薄膜校准 漂移功能：正负一个常数值 |
| 统计 | 测量次数、平均值、标准偏差、最小值、最大值 |
| 数据存储 | 2*100个测量值 |
| 接口 | 红外/电线 |
| 工作温度 | 0℃~60℃ |
| 表面温度 | -15℃~60℃ |
| 规格尺寸 | 137mm*66mm*23mm |
| 探头规格 | ∅14mm*83mm |
| 重量 | 205g，含探头和电池 |
| 防护等级 | IP 52（防尘和滴水） |
| 标准 | DIN, ISO, ASTM, BS |
| 名称 | 型号 | 说明书 | 画册 | 操作说明书 | 清单 |
|---|---|---|---|---|---|
| 两用统计型膜厚仪 | Surfix®E-FN | Surfix FN测厚仪，保护套，校准片，手提箱，AAA电池，数据传输软件，制造商证书，使用说明书。 |